錦正茂高低溫真空磁場探針臺探針臺配備4個（可選6個或8個）擁有高精度位移的探針臂，同時配有高精度電子顯微鏡，便于微小樣品的觀察操作。探針可通過直流或者低頻交流信號，用來測試芯片、晶圓片、封裝器件等，廣泛應用于半導體工業、MEMS、超導、電子學、鐵電子學、物理學、材料學和生物醫學等...
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9.29PT100低溫溫度計PT100低溫溫度計概述：對于需要在30K到500K之間對溫度進行測量和控制的場合，PT100鉑電阻溫度計是一個*的選擇。在這個溫度范圍內，鉑電阻溫度計有很好的重復性和幾乎不變的靈敏度。在誤差允許的范圍內（1度），鉑電阻溫度計也可以應用在磁場和輻射環境中。您也可以在淘寶網首頁搜索“錦正茂科技”，就能看到我們的企業店鋪，聯系更加方便快速！70K以上鉑電阻溫度計具有通用的標準曲線，這使得鉑電阻溫度計擁有很好的互換性。錦正茂提供的薄膜型鉑電阻，尺寸更小，響應時間...
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10.28CernoxTM低溫溫度計產品概述：碳陶瓷溫度計具有高靈敏度、穩定性好、磁場性能優良和耐輻射等特性。與其他可用的低溫溫度傳感器相比，碳陶瓷低溫溫度計具有*的機械和熱環境性能，被廣泛應用于整個工業研究領域。CernoxTM低溫溫度計特征：※20年來，每年測量的長期穩定性漂移小于1mK※的靈敏度400-1600Ω/K※響應時間小于1毫秒※磁場小于6T，誤差可忽略不計※的機械穩定性和操縱特性※適用于1.5-375K的寬溫度范圍※可用在強磁場、中子-γ輻射條件下※具有良好的穩定性、熱...
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10.27產品概述：TESK301低溫控溫儀是有北京錦正茂科技有限公司自主研發的高精度單回路低溫溫度控制系統，可以實現從3K-600K的溫度控制輸出。該溫控系統具有1路傳感器輸入和一路加熱輸出功能，傳感器輸入和加熱輸出組成了一個控制回路。TESK301單通道設計能滿足大部分實驗室科研以及工業低溫控溫使用。配合適當的傳感器低溫度測量低至1.4K，高溫達到600K以上，分辨率高達10mK。加熱輸出功率分為三檔可調節，低檔為0.8W，高檔高達80W，能滿足大部分低溫設備加熱需求。溫控儀的前面...
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10.26產品概述：北京錦正茂科技有限公司提供的一維、二維、三維磁場探針臺，采用無磁材料制成，一維、二維、三維三對亥姆霍茲線圈正交放置，產生空間一維、二維、三維磁場。線圈可采用風冷（磁場較小）也可采用水冷結構（磁場較大），并且配備有線圈過熱保護裝置。和錦正茂生產的高精度雙極性直流電源配合使用可以長時間穩定工作。通過軟件或者電源控制面板上按鍵控制每一維上的輸出電流，可以產生空間任意方向的矢量磁場。探針臺配備有可移動樣品臺，可以實現水平方向二維移動和樣品臺360度轉動，便于樣品的安裝和測試...
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10.22高低溫真空探針臺產品概述：可進行真空環境下的高低溫測試（4.2K~500K），可升級加載磁場，低溫防輻射屏設計，樣品臺采用高純度無氧銅制作，溫度均勻性更好，溫度傳感器采用有著良好穩定性和重復性的PT100或者標定過的硅二極管作為測溫裝置，支持光纖光譜特性測試，兼容高倍率金相顯微鏡，可微調移動，器件的高頻特性(支持*高67GHz頻率)，探針熱沉設計，LD/LED/PD的光強/波長測試，自動流量控制，材料/器件的IV/CV特性測試等。高低溫真空探針臺選型注意事項：※大需要測幾in...
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10.21產品概述：高低溫真空磁場探針臺是具備提供高低溫、真空以及磁場環境的高精度實驗臺，它的諸多設計都是的。因此，高低溫磁場探針臺的配置主要是根據用戶的需求進行選配及設計。例如，要求的磁場值，均勻區大小、均勻度大小、樣品臺的尺寸等，均于磁力線在一定區域內產生的磁通密度相關聯；位移臺還可與磁流體密封搭配，實現水平方向二維移動和樣品臺360度轉動；除此之外，該探針臺和我司自主研發的高精度雙極性恒流電源搭配使用戶，可以磁場的高穩定性。因此，該類型的探針臺主要依據客戶的使用情況進行設計優化。...
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10.19JH60永磁體霍爾效應測試儀產品簡介：霍爾效應系統組成：本儀器系統由永磁體、高精度恒流源高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高精度高斯計和系統軟件組成。為本儀器系統專門研制的JH10效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。JH10可單獨做恒流源、微伏表使用。用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導...
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10.16高阻霍爾效應測試系統JH60E產品概述：本儀器系統由電磁鐵、電磁鐵電源、高精度恒流源高精度電壓表、霍爾效應樣品支架、標準樣品、高低溫杜瓦，控溫儀，系統軟件。為本儀器系統專門研制的JH10效應儀將恒流源，六位半微伏表及霍爾測量復雜的切換繼電器——開關組裝成一體，大大減化了實驗的連線與操作。JH10可單獨做恒流源、微伏表使用。用于測量半導體材料的載流子濃度、遷移率、電阻率、霍爾系數等重要參數，而這些參數是了解半導體材料電學特性必須預先掌控的，因此霍爾效應測試系統是理解和研究半導體...
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10.14
